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X射线荧光镀层测厚仪/rohs光谱仪HD-Ux-720

来源:未知时间:2020-07-10分类:RoSH分析仪浏览:

 
———————产品参数———————
  产品简介  

X射线荧光镀层测厚仪/rohs光谱仪用于电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业Ux-720 精密镀层分析仪专用X射线荧光光谱仪专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型,三重射线防护系统;人性化操作界面;华唯VisualFp基本参数法分析软件,可盲测(即:无需标准样品标定),即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析,降低客户购买标准样品(尤其是特殊样品)成本。精心设计的开放式工作曲线功能,特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。

                                                                
  主要技术参数  

1.分析元素范围:S-U中的元素

2、检测成分范围:1ppm-99.99%

3、下限检测厚度:0.001um

4、检测厚度上限:30 - 50um(视材料而定)

5、检测镀层层数:1-5层(视材料而定)

6、测量时间 :30-150s ( 系统自动调整 )

7、分辨率:145±5eV

8、准直器:Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自动切换

9、滤光片:5种滤光片自动切换

10、CCD观察:260万像素高清CCD

11、样品微动范围:XY15mm

12、仪器尺寸:680(W)x400(D)x390(H)mm

13、样品腔尺寸:300*360*100mm;

14、输入电源:AC220V~240V,50/60Hz

15、额定功率:350W

16、重量:约45Kg

17、工作环境温度:温度15—30℃

18、工作环境相对湿度:≤85%(不结露)

19、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%

标准配件:

样品固定支架1支

窗口支撑薄膜:100张

保险管:3支

计算机主机:品牌+双核

显示屏:19寸液晶

打印机:喷墨打印机

可选配件:

可升级为SDD探测器

——————产品细节图———————


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